ОФНКристаллография Crystallography Reports

  • ISSN (Print) 0023-4761
  • ISSN (Online) 3034-5510

Специфика применения методов математической оптимизации для исследования наноструктур по данным рентгеновской дифракции

Код статьи
10.31857/S0023476123010034-1
DOI
10.31857/S0023476123010034
Тип публикации
Статус публикации
Опубликовано
Авторы
Том/ Выпуск
Том 68 / Номер выпуска 1
Страницы
100-104
Аннотация
Рассмотрены особенности методов математической оптимизации и предложены алгоритмы их использования, позволяющие повысить эффективность нахождения экстремальных значений в решении оптимизационных проблем. Предлагаемые алгоритмы носят универсальный характер, что позволяет применять их в различных областях вычислительной математики. В качестве иллюстрации приведено решение обратной задачи рефлектометрии в рамках ступенчатой модели электронного профиля для жидкокристаллической пленки блочного дендримера. Также по данным дифракции скользящего падения определена структура тонкопленочного слоя на водной субфазе. Предложенные алгоритмы методов оптимизации реализованы в рамках аналитического программного комплекса BARD (Basic Analisys of X-Ray Diffraction).
Ключевые слова
Дата публикации
15.09.2025
Год выхода
2025
Всего подписок
0
Всего просмотров
12

Библиография

  1. 1. X-ray and Neutron Reflectivity: Principles and Applications. Lect. Notes Phys. V. 770 / Eds. Daillant J., Gibaud A. Berlin; Heidelberg: Springer, 2009. 348 p. https://doi.org/10.1007/978-3-540-88588-7
  2. 2. Ostrovskii B.I., Sulyanov S.N., Boiko N.A. et al. // Eur. Phys. J. E. 2013. V. 36. P. 134. https://doi.org/10.1140/epje/i2013-13134-8
  3. 3. Алиханов А.И. // Проблемы новейшей физики. Л.; М.: Гос. техн.-теоретич. изд-во, 1933. Вып. III. С. 5.
  4. 4. Parratt L.G. // Phys. Rev. 1954. V. 95. P. 359. https://doi.org/10.1103/PhysRev.95.359
  5. 5. Гилл Ф., Мюррей Ю., Райт М. Практическая оптимизация. М.: Мир, 1985. 509 с.
  6. 6. Астафьев С.Б., Щедрин Б.М., Янусова Л.Г. // Кристаллография. 2012. Т. 57. № 1. С. 141.
  7. 7. Birkholz M. Thin Film Analysis by X-Ray Scattering. WILEY-VCH, 2006. 356 p.
  8. 8. Encyclopedia of Optimization. Second Ed. Springer, 2009. 4626 p.
  9. 9. Dennis J.E., Gay D.M., Welsch R.E. // ACM Trans. Math. Softw. 1981. V. 7. № 3. P. 348.
  10. 10. Астафьев С.Б., Янусова Л.Г. // Кристаллография. 2022. Т. 67. № 3. С. 491. https://doi.org/10.31857/S0023476122030031
  11. 11. Астафьев С.Б., Янусова Л.Г. // Поверхность. Рентген., синхротр. и нейтр. исследования. 2021. № 7. С. 56. https://doi.org/10.31857/S1028096021070049
QR
Перевести

Индексирование

Scopus

Scopus

Scopus

Crossref

Scopus

Высшая аттестационная комиссия

При Министерстве образования и науки Российской Федерации

Scopus

Научная электронная библиотека