Везде

ОФНКристаллография Crystallography Reports

  • ISSN (Print) 0023-4761
  • ISSN (Online) 3034-5510

Возможности современной просвечивающей растровой электронной микроскопии в исследованиях карбидов бора

Вы можете
Код статьи
10.31857/S0023476123010198-1
DOI
10.31857/S0023476123010198
Тип публикации
Статус публикации
Опубликовано
Авторы
Павлов И. С.
  • Аффилиация: Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова ФНИЦ “Кристаллография и фотоника” РАН
Александров П. А.
  • Аффилиация:
    Национальный исследовательский центр “Курчатовский институт”
    Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова ФНИЦ “Кристаллография и фотоника” РАН
    Московский физико-технический институт
Том/ Выпуск
Том 68 / Номер выпуска 1
Страницы
153-159
Аннотация
Интегрированный дифференциальный фазовый контраст является перспективным методом просвечивающей растровой электронной микроскопии. Среди его преимуществ можно выделить хорошую чувствительность к легким элементам, близкую к линейной, связь между формируемым контрастом изображений и атомными номерами Z-атомов, содержащихся в образце, шумоподавление и многое другое. С помощью моделирования и математической обработки проанализированы перспективы применения метода для исследования кристаллической структуры материалов, состоящих из легких атомов, на примере политипов карбида бора. Показано, что чувствительность метода позволяет отличить колонки атомов бора от колонок, состоящих из углерода. Сформулированы рекомендации по использованию этого метода для анализа структур, состоящих из легких элементов.
Ключевые слова
Дата публикации
15.09.2025
Год выхода
2025
Всего подписок
0
Всего просмотров
11

Библиография

  1. 1. Williams D.B., Carter C.B. The transmission electron microscope. Berlin: Springer, 1996. 757 p.
  2. 2. Lazić I., Bosch E.G.T. // Adv. Imaging Electron Phys. 2017. V. 199. P. 75. https://doi.org/10.1016/bs.aiep.2017.01.006
  3. 3. Hetherington C. // Mater. Today. 2004. V. 7. P. 50. https://doi.org/10.1016/S1369-7021 (04)00571-1
  4. 4. Rosenauer A., Gries K., Müller K. et al. // Ultramicroscopy. 2009. V. 109. P. 1171. https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2009.05.003
  5. 5. Molina S.I., Sales D.L., Galindo P.L. et al. // Ultramicroscopy. 2009. V. 109. P. 172. https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2008.10.008
  6. 6. LeBeau J.M., Findlay S.D., Allen J.M. et al. // Phys. Rev. Lett. 2008. V. 100. P. 206101. https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.100.206101
  7. 7. Dwyer C., Maunders C., Zheng C.L. et al. // Appl. Phys. Lett. 2012. V. 100. P. 191915. https://doi.org/10.1063/1.4711766
  8. 8. Yücelen E., Lazić I., Bosch E.G.T. // Sci. Rep. 2018. V. 8. P. 2676. https://doi.org/10.1038/s41598-018-20377-2
  9. 9. Dekkers N.H., De Lang H. // Optik (Stuttg). 1974. V. 41. P. 452.
  10. 10. Shibata N., Kohno Y., Findlay S.D. et al. // J. Electron Microsc. (Tokyo). 2010. V. 59. P. 473. https://doi.org/10.1093/jmicro/dfq014
  11. 11. Lazić I., Bosch E.G.T., Lazar S. // Ultramicroscopy. 2016. V. 160. P. 265. https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2015.10.011
  12. 12. Waddell E.M. // Optik (Stuttg). 1979. V. 54. P. 83.
  13. 13. Bosch E.G.T., Lazić I. // Ultramicroscopy. 2015. V. 156. P. 59. https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2015.02.004
  14. 14. Thévenot F. // J. Eur. Ceram. Soc. 1990. V. 6. P. 205. https://doi.org/10.1016/0955-2219 (90)90048-K
  15. 15. Domnich V., Reynaud S., Haber R. et al. // J. Am. Ceram. Soc. 2011. V. 94. P. 3605. https://doi.org/10.1111/j.1551-2916.2011.04865.x
  16. 16. Chen M., McCauley J.W., Hemker K.J. // Science. 2003. V. 299. P. 1563. https://doi.org/10.1126/science.1080819
  17. 17. Ghosh D.S., Ghatu S., Tirumalai S.R. et al. // J. Am. Ceram. Soc. 2007. V. 90. P. 1850. https://doi.org/10.1111/j.1551-2916.2007.01652.x
  18. 18. Madhav R.K., Guo J.J., Shinoda Y. et al. // Nat. Commun. 2012. V. 3. P. 1052. https://doi.org/10.1038/ncomms2047
  19. 19. Reddy K., Liu P., Hirata A. et al. // Nat. Commun. 2013. V. 4. P. 2483. https://doi.org/10.1038/ncomms3483
  20. 20. Brook R.J., Cahn R.W., Bever M.B. Concise encyclopedia of advanced ceramic materials. N.Y.: Pergamon Press, 1991. 592 p.
  21. 21. Ashbee K.H.G. // Acta Metall. 1971. V. 19. P. 1079. https://doi.org/10.1016/0001-6160 (71)90040-X
  22. 22. Bai H., Ma N., Lang J. et al. // Mater. Des. 2013. V. 46. P. 740. https://doi.org/10.1016/j.matdes.2012.09.053
  23. 23. Sankaranarayanan S., Sabat R.K., Jayalakshmi S. et al. // Mater. Des. 2014. V. 56. P. 428. https://doi.org/10.1016/j.matdes.2013.11.031
  24. 24. Жданов Г.С., Севастьянов Н.Г. // Докл. АН СССР. 1941. Т. 32. С. 432.
  25. 25. Clark H.K., Hoard J.L. // J. Am. Chem. Soc. 1943. V. 65. P. 2115. https://doi.org/10.1021/ja01251a026
  26. 26. Ekbom L.B., Amundin C.O. // Sci. Ceram. 1981. V. 11. P. 237.
  27. 27. Beauvy M. // J. Less Common Met. 1983. V. 90. P. 169. https://doi.org/10.1016/0022-5088 (83)90067-X
  28. 28. Silver A.H., Bray P.J. // J. Chem. Phys. 1959. V. 31. P. 247. https://doi.org/10.1063/1.1730302
  29. 29. Lee D., Bray P.J., Aselage T.L. // J. Phys. Condens. Matter. 1999. V. 11. P. 4435. https://doi.org/10.1088/0953-8984/11/22/314
  30. 30. Mauri F., Vast N., Pickard C.J. // Phys. Rev. Lett. 2001. V. 87. P. 855061. https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.87.085506
  31. 31. Lazzari R., Vast N., Besson J.M. et al. // Phys. Rev. Lett. 1999. V. 83. P. 3230. https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.83.3230
  32. 32. Hoard J.L., Hughes R.E. // Chem. Boron Its Compd. 1967. P. 26.
  33. 33. Morosin B., Mullendore A.W., Emin D. et al. // AIP Conference Proceedings. 1986. V. 140. P. 70. https://doi.org/10.1063/1.35589
  34. 34. Larson A.C. // AIP Conference Proceedings. 1986. V. 140. P. 109. https://doi.org/10.1063/1.35619
  35. 35. Kwei G.H., Morosin B. // J. Phys. Chem. 1996. V. 100. P. 8031. https://doi.org/10.1021/jp953235j
  36. 36. Walters K.L., Green G.L. Thes. speech. Los Alamos Natl. Lab. “Adv. Plutonium Fuels”, Los Alamos, 1970. P. 14.
  37. 37. Kirfel A., Gupta A., Will G. // Acta Cryst. B. 1979. V. 35. P. 1052. https://doi.org/10.1107/s0567740879005562
  38. 38. Emin D. // Phys. Rev. B. 1988. V. 38. P. 6041. https://doi.org/10.1103/PhysRevB.38.6041
  39. 39. Yakel H.L. // Acta Cryst. B. 1975. V. 31. P. 1797. https://doi.org/10.1107/S0567740875006267
  40. 40. Fujita T., Guan P., Madhav Reddy K. et al // Appl. Phys. Lett. 2014. V. 104. P. 021907. https://doi.org/10.1063/1.4861182
  41. 41. Демиденко Е.З. Линейная и нелинейная регрессия. М.: Финансы и статистика, 1981. 304 с.
  42. 42. Van Aert S., Verbeeck J., Erni R. et al. // Ultramicroscopy. 2009. V. 109. P. 1236. https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2009.05.010
  43. 43. Бондаренко В.И., Васильев А.Л. Тез. докл. XXVIII Рос. конф. по эл. микр. “Количественный анализ изображений точечных дефектов в ПРЭМ”, Черноголовка 2020. С. 24.
  44. 44. Гонзалес Р., Вудс Р. Цифровая обработка изображений. М.: Техносфера, 2005. 1072 с.
QR
Перевести

Индексирование

Scopus

Scopus

Scopus

Crossref

Scopus

Высшая аттестационная комиссия

При Министерстве образования и науки Российской Федерации

Scopus

Научная электронная библиотека