Везде

ОФНКристаллография Crystallography Reports

  • ISSN (Print) 0023-4761
  • ISSN (Online) 3034-5510

Сегнетоэлектрик-релаксор PbNi1/3Ta2/3O3: синтез, структура, спектры комбинационного рассеяния и диэлектрическая восприимчивость

Вы можете
Код статьи
10.31857/S0023476123600532-1
DOI
10.31857/S0023476123600532
Тип публикации
Статус публикации
Опубликовано
Авторы
Левин А. А.
  • Аффилиация: Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН
Том/ Выпуск
Том 68 / Номер выпуска 5
Страницы
722-733
Аннотация
Представлены результаты исследований структуры сегнетоэлектриков-релаксоров PbNi1/3Ta2/3O3 (PNT) с помощью порошковой рентгеновской дифракции. Измерения проводились при температуре 313.5 ± 1 K на порошке, приготовленном перетиранием из выращенных методом спонтанной кристаллизации монокристаллов PNT. Уточнение структуры и подгонка теоретически рассчитанной дифрактограммы к экспериментальной проводились методом Ритвельда. Показано, что выращенные кристаллы PNT имеют структуру перовскита (пр. гр. Pm\(\bar {3}\)m (221), a = 4.02679(2) Å). Поляризованные спектры комбинационного рассеяния PNT получены при комнатной температуре. Предложено соотнесение основных мод спектров рассеяния света с Е1- и А1-компонентами поперечного оптического фонона (ТО1) и А1-компонентой продольного оптического фонона (LO3). На температурной зависимости диэлектрической проницаемости наблюдается широкая частотно-зависимая аномалия с максимумом в районе 89 К на частоте 1 кГц.
Ключевые слова
Дата публикации
15.09.2025
Год выхода
2025
Всего подписок
0
Всего просмотров
12

Библиография

  1. 1. Смоленский Г.А., Аграновская А.И. // ФТТ. 1959. Т. 1. С. 1562.
  2. 2. Боков В.А., Мыльникова И.Е. // ФТТ. 1960. Т. 11. С. 2728.
  3. 3. Cross L.E. // Ferroelectrics. 1987. V. 76. P. 241. https://doi.org/10.1080/00150198708016945
  4. 4. Смоленский Г.А., Боков В.А., Юсупов В.А. и др. Физика сегнетоэлектрических явлений. Л.: Наука, 1985.
  5. 5. Cowley R.A., Gvasaliya S.N., Lushnikov S.G. et al. // Adv. Phys. 2011. V. 60. P. 229. https://doi.org/10.1080/00018732.2011.555385
  6. 6. Kimura T., Goto T., Shintani H. et al. // Nature. 2003. V. 426. P. 55. https://doi.org/10.1038/nature02018
  7. 7. Blinc R., Cevc P., Zorko A. et al. // J. Appl. Phys. 2007. V. 101. P. 033901. https://doi.org/10.1063/1.2432309
  8. 8. Chillia S. Microscopic coexistence of antiferromagnetic and spin glass states in disordered perovskites, PhD Thesis. ETH, Zurich, 2015.
  9. 9. Shirakami T., Mituskawa M., Imai T., Urabe K. // Jpn. J. Appl. Phys. 2000. V. 39. L678. https://doi.org/10.1143/JJAP.39.L678
  10. 10. Ханнанов Б.Х., Залесский В.Г., Головенчиц Е.И. и др. // ЖЭТФ. 2020. Т. 157. С. 523. https://doi.org/10.31857/S004445102003013X
  11. 11. Полушина А.Д., Обозова Е.Д., Залесский В.Г. и др. // ФТТ. 2021. Т. 63. С. 1382.
  12. 12. Li Z., Vilarinho P.M. // J. Eur. Ceram. Soc. 2005. V. 25. P. 2527. https://doi.org/10.1016/j.jeurceramsoc.2005.03.213
  13. 13. Preeti C., Pandey A., Selvamani R. et al. // Ferroelectrics. 2017. V. 517. P. 90. https://doi.org/10.1080/00150193.2017.1370265
  14. 14. Bruker AXS. Diffrac. Suite Eva. Version 5.1.0.5. Bruker AXS, Karlsruhe. Germany, 2019.
  15. 15. International Centre for Diffraction Data (ICDD), Powder Diffraction File-2 Release 2014. ICDD: Newton Square, PA, USA, 2014.
  16. 16. Maunders C., Etheridge J., Wright N., Whitfield H.J. // Acta. Cryst. B. 2005. V. 61. P. 154. https://doi.org/10.1107/S0108768105001667
  17. 17. Levin A.A. Program SizeCr for calculation of the microstructure parameters from X-ray diffraction data. Preprint. ResearchGate. 2022. https://doi.org/10.13140/RG.2.2.15922.89280
  18. 18. Terlan B., Levin A.A., Börrnert F. et al. // Chem. Mater. 2015. V. 27. P. 5106. https://doi.org/10.1021/acs.chemmater.5b01856
  19. 19. Terlan B., Levin A.A., Börrnert F. et al. // Eur. J. Inorg. Chem. 2016. V. 6. P. 3460. https://doi.org/10.1002/ejic.201600315
  20. 20. Rietveld H.M. // Acta Cryst. 1967. V. 22. P. 151. https://doi.org/10.1107/S0365110X67000234
  21. 21. Le Bail A., Duroy H., Fourquet J.L. // Mat. Res. Bull. 1988. V. 23. P. 447. https://doi.org/10.1016/0025-5408 (88)90019-0
  22. 22. Brucker AXS, TOPAS, Version 5, Technical reference, Brucker AXS, Karlsruhe, Germany, 2014.
  23. 23. Bérar J.-F., Lelann P.J. // J. Appl. Cryst. 1991. V. 2. P. 1. https://doi.org/10.1107/S0021889890008391
  24. 24. Levin A.A. “Program RietESD for correction of estimated standard deviations obtained in Rietveld-refinement programs”, Preprint, ResearchGate. 2022. https://doi.org/10.13140/RG.2.2.10562.04800
  25. 25. Andreev Yu.G. // J. Appl. Cryst. 1994. V. 27. P. 288. https://doi.org/10.1107/S002188989300891X
  26. 26. Popova E.A., Zalessky V.G., Shaplygina T.A. et al. // Ferroelectrics. 2011. V. 412. P. 15. https://doi.org/10.1080/00150193.2011.542688
  27. 27. Hill R.J. // Acta Cryst. C. 1985. V. 41. P. 1281. https://doi.org/10.1107/S0108270185007454
  28. 28. Sasaki S., Fujino K., Takeuchi Y. // Proc. Jpn. Acad. B. 1979. V. 55. P. 43. https://doi.org/10.2183/pjab.55.43
  29. 29. Konyasheva E., Suard E., Irvine J.T.S. // Chem. Mater. 2009. V. 21. P. 5307. https://doi.org/10.1021/cm902443n
  30. 30. Shimomura Y., Kojima M., Saito S. // J. Phys. Soc. Jpn. 1956. V. 11. P. 1136. https://doi.org/10.1143/JPSJ.11.1136
  31. 31. Хитрова В.И., Клечковская В.В., Пинскер З.Г. // Кристаллография. 1972. Т. 17. С. 506.
  32. 32. Langford J.I., Cernik R.J., Louer D. // J. Appl. Phys. 1991. V. 24. P. 913. https://doi.org/10.1107/S0021889891004375
  33. 33. Stokes A.R., Wilson A.J.C. // Proc. Phys. Soc. London 1944. V. 56. P. 174. https://doi.org/10.1088/0959-5309/56/3/303
  34. 34. Scherrer P. // Nachr. Kӧnigl. Ges. Wiss. Gӧttingen. 1918. V. 26. P. 98. (in German).
  35. 35. Berger H. // X-ray Spectrom. 1986. V. 15. P. 241. https://doi.org/10.1002/xrs.1300150405
  36. 36. Cheary R.W., Coelho A.A. // J. Appl. Cryst. 1992. V. 25. P. 109. https://doi.org/10.1107/S0021889891010804
  37. 37. Balzar D. Voigt-function model in diffraction line-broadening analysis / Eds. Snyder R.L. et al. Defect and Microstructure Analysis by Diffraction, IUCr, Oxford Uni. Press, 1999. P. 94. https://doi.org/10.1107/S0021889890008391
  38. 38. Dollase W.A. // J. Appl. Cryst. 1986. V. 19. P. 267. https://doi.org/10.1107/S0021889886089458
  39. 39. Pecharsky V.K., Zavalij P.Y., Fundamentals of Powder Diffraction and Structural Characterization of Materials, 2nd edition, Springer Science+Business Media, LLC, 2009. https://doi.org/10.1007/978-0-387-09579-0
  40. 40. Hill R.J., Fischer R.X. // J. Appl. Cryst. 1990. V. 23. P. 462. https://doi.org/10.1107/S0021889890006094
  41. 41. Young R.A. Introduction to the Rietveld Method / Ed. Young R.A. The Rietveld Method, IUCr Book Series Oxford Uni. Press, Oxford, UK, 39 p.
  42. 42. Hall M.M. Jnr, Veeraraghavan V.G., Rubin H., Winchell P.G. // J. Appl. Cryst. 1977. V. 10. P. 66. https://doi.org/10.1107/S0021889877012849
  43. 43. Lushnikov S.G., Gvasaliya S.N., Katiyar R. // Phys. Rev. B. 2004. V. 70. 172101. https://doi.org/10.1103/PhysRevB.70.172101
  44. 44. Gvasaliya S.N., Roessli B., Sheptyakov D. et al. // Eur. Phys. J. B. 2004. V. 40. P. 235. https://doi.org/10.1140/epjb/e2004-00276-8
  45. 45. Siny I.G., Katiyar R.S., Bhalla A.S. // Ferroelectr. Rev. 2000. V. 2. P. 51.
  46. 46. Lee J.W., Ko J.-H., Fedoseev A.I. et al. // J. Phys. Condens. Matter. 2021. V. 33. 025402. https://doi.org/10.1088/1361-648X/abb67f
QR
Перевести

Индексирование

Scopus

Scopus

Scopus

Crossref

Scopus

Высшая аттестационная комиссия

При Министерстве образования и науки Российской Федерации

Scopus

Научная электронная библиотека