Методами электронно-ионной микроскопии проведена трехмерная реконструкция микроструктуры дефектов, связанных с образованием усталостных трещин в образцах, разрушенных в результате малоцикловых испытаний. Определены геометрические параметры выделенных в процессе 3D-реконструкции дефектов, содержащих Hf, Nb, Ti, Al, Ni. Морфология отдельных частиц представлена набором форм, образующих плоские (чешуйчатые) конгломераты размером до десятков микрон, которые не могут быть обнаружены неразрушающими методами контроля. Выявленные особенности морфологии позволяют предложить комплекс мер по увеличению срока службы деталей, изготовленных из гранулируемого жаропрочного никелевого сплава ЭП741НП, что является важным практическим результатом исследования.
Представлены возможности комплексного исследования объемной структуры полимерного губчатого матрикса на основе полилактида методом рентгеновской микротомографии без контрастирования в сочетании с неинвазивным методом сканирующей импульсной акустической микроскопии и энергодисперсионным рентгеновским микроанализом. Проведены сравнительные исследования чистых образцов матриксов, образцов in vitro в культуральной среде и после их имплантации in vivo. Использование комплекса неинвазивных методов выявило изменения микроструктуры, в том числе процессы деградации матрикса в культуральной среде, после инкубации клетками и имплантации в лабораторное животное.
Различными методами электронной микроскопии исследована структура двухфазных вискеров трисульфидов ниобия NbS. Вискер представляет собой высокотекстурированный поликристалл, состоящий из двух кристаллических фаз NbS-I и NbS-II. Методом электронной дифракции определены два ориентационных соотношения между фазами. На межфазных границах обнаружены поры и дислокации, построены модели межфазных границ. Выявлена структура дефектов упаковки различного типа в кристаллической фазе NbS-II.
Проведен анализ результатов структурных исследований методами рентгеновской и электронно-микроскопической диагностики пленок NiO, полученных при магнетронном напылении. Показано различие структуры и состава пленок разной толщины до и после термообработки. Обсуждаются причины этих различий, а также причины формирования слоя на границе раздела, важного для получения стабильных наноразмерных пленок NiO на подложках сапфира.
Indexing
Scopus
Crossref
Higher Attestation Commission
At the Ministry of Education and Science of the Russian Federation