Различными методами электронной микроскопии исследована структура двухфазных вискеров трисульфидов ниобия NbS. Вискер представляет собой высокотекстурированный поликристалл, состоящий из двух кристаллических фаз NbS-I и NbS-II. Методом электронной дифракции определены два ориентационных соотношения между фазами. На межфазных границах обнаружены поры и дислокации, построены модели межфазных границ. Выявлена структура дефектов упаковки различного типа в кристаллической фазе NbS-II.
Проведен анализ результатов структурных исследований методами рентгеновской и электронно-микроскопической диагностики пленок NiO, полученных при магнетронном напылении. Показано различие структуры и состава пленок разной толщины до и после термообработки. Обсуждаются причины этих различий, а также причины формирования слоя на границе раздела, важного для получения стабильных наноразмерных пленок NiO на подложках сапфира.
Индексирование
Scopus
Crossref
Высшая аттестационная комиссия
При Министерстве образования и науки Российской Федерации