Представлены результаты первого измерения кривой качания нанофокусирующей составной преломляющей линзы из кремния для фокусировки синхротронного излучения (СИ) на источнике "КИСИ-Курчатов". Полученная кривая с высокой точностью аппроксимируется функцией Гаусса, а ее ширина соответствует развитой ранее аналитической теории для описания распространения СИ в многоэлементных фокусирующих системах. Показана возможность использования кривой качания как характеристики соосности экспериментальной схемы при работе с кремниевыми линзами на источниках СИ второго поколения.
Обсуждаются проблемы экспериментального исследования реальной структуры кристаллов методом фазово-контрастного изображения в синхротронном излучении (СИ), предложены способы их решения. Эксперимент выполнен на источнике СИ "Pohang Light Source" в г. Поханг, Республика Корея. Исследовались кристаллы алмаза. Анализируются возможности метода в исследовании слабых изменений плотности кристаллов в условиях пространственно неоднородной интенсивности пучка и наличия статистического шума как в самом пучке, так и в детекторе без пучка. Получены изображения различной формы и структуры, указывающие на наличие дефектов в кристалле, однако их идентификация требует более детального анализа.
Индексирование
Scopus
Crossref
Высшая аттестационная комиссия
При Министерстве образования и науки Российской Федерации