Представлены результаты первого измерения кривой качания нанофокусирующей составной преломляющей линзы из кремния для фокусировки синхротронного излучения (СИ) на источнике "КИСИ-Курчатов". Полученная кривая с высокой точностью аппроксимируется функцией Гаусса, а ее ширина соответствует развитой ранее аналитической теории для описания распространения СИ в многоэлементных фокусирующих системах. Показана возможность использования кривой качания как характеристики соосности экспериментальной схемы при работе с кремниевыми линзами на источниках СИ второго поколения.
Индексирование
Scopus
Crossref
Высшая аттестационная комиссия
При Министерстве образования и науки Российской Федерации