Статьи автора

О ПРОБЛЕМАХ ФАЗОВО-КОНТРАСТНОГО ИЗОБРАЖЕНИЯ МИКРООБЪЕКТОВ В КРИСТАЛЛАХ В СИНХРОТРОННОМ ИЗЛУЧЕНИИ

Номер выпуска 6 от 11.08.2025

Обсуждаются проблемы экспериментального исследования реальной структуры кристаллов методом фазово-контрастного изображения в синхротронном излучении (СИ), предложены способы их решения. Эксперимент выполнен на источнике СИ "Pohang Light Source" в г. Поханг, Республика Корея. Исследовались кристаллы алмаза. Анализируются возможности метода в исследовании слабых изменений плотности кристаллов в условиях пространственно неоднородной интенсивности пучка и наличия статистического шума как в самом пучке, так и в детекторе без пучка. Получены изображения различной формы и структуры, указывающие на наличие дефектов в кристалле, однако их идентификация требует более детального анализа.

4 0