Отделение "Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова" Кручатовского комплекса кристаллографии и фотоники ННЦ "Кручатовский институт"; МИРЭА – Российский технологический университет
Охарактеризованы образцы кристаллов на основе CdTe. Определены элементный и фазовый составы образцов. Измерена микротвердость образцов на двух взаимно перпендикулярных поверхностях кристаллов. Показано, что в кристаллах с основной фазой CdTe и различным примесным составом анизотропия микротвердости не выражена. В кристаллах с основной фазой CdZnTe обнаружена анизотропия микротвердости, связанная с различием длин связей Cd–Te и Zn–Te, что приводит к несимметричным искажениям кристаллической решетки. Наблюдаемые различия микротвердости кристаллов CdTe объясняются различием структурных параметров.
Индексирование
Scopus
Crossref
Высшая аттестационная комиссия
При Министерстве образования и науки Российской Федерации