Статьи автора

Определение оптимальных направлений волнового вектора фазовой голографической решетки в кубическом фоторефрактивном кристалле

Номер выпуска 3 от 15.09.2025

Изучена зависимость изменения компонент обратного тензора диэлектрической проницаемости кубического фоторефрактивного кристалла Bi₁₂SiO₂₀ от направления волнового вектора голографической решетки в кристаллографической системе координат. Показано, что при записи фазовой голограммы наибольшее изменение показателя преломления кристалла Bi₁₂SiO₂₀ достигается при ориентации волнового вектора голографической решетки вдоль симметрично эквивалентных направлений <111>. Установлено, что максимально возможная амплитуда модуляции показателя преломления голографической решетки при ориентации ее волнового вектора вдоль направлений <110> оказывается больше, чем при ориентации вдоль направлений <100>. При расчетах компонент обратного тензора диэлектрической проницаемости кристалла Bi₁₂SiO₂₀ принималось в учет, что запись фазовой голограммы происходит под действием линейного электрооптического, фотоупругого и обратного пьезоэлектрического эффектов.

60 0