Разработана методика получения истинных профилей распределения интенсивности дифракции рентгеновских лучей методом рентгеновской дифрактометрии для выявления неоднородных поверхностных деформаций криволинейной поверхности с периодическим рельефом путем отделения эффектов, связанных с влиянием этой поверхности на форму дифракционного профиля. Получены истинные профили распределения интенсивности, связанные только с неоднородными поверхностными деформациями и размерами кристаллических блоков, определены параметры и особенности функций распределения этих деформаций. Предложенный подход позволяет выделять в том числе вклад только от криволинейной поверхности с регулярным рельефом образца в форму профиля распределения интенсивности.
Индексирование
Scopus
Crossref
Higher Attestation Commission
At the Ministry of Education and Science of the Russian Federation