Предложена методика измерения и учета фона в нейтронном монокристальном эксперименте при работе с позиционно-чувствительном детектором, позволяющая увеличить отношение интегральных интенсивностей к стандартному отклонению I/σ(I) для дифракционных отражений и таким образом включить в массив экспериментальных данных отражения, которые не соответствовали условию I/σ(I) > 3, считались слабыми и не учитывались при выполнении кристаллографических расчетов. Методика апробирована на экспериментальных данных при проведении структурных исследований монокристалла Cs4(HSO4)3(H2PO4) на станции МОНД реактора ИР-8 (НИЦ КИ).
Индексирование
Scopus
Crossref
Высшая аттестационная комиссия
При Министерстве образования и науки Российской Федерации