Статьи автора

Обработка и анализ изображений магнитно-силовой микроскопии, полученных на объемных одноосных кристаллах

Номер выпуска 3 от 14.09.2025

Изображения полей рассеяния магнитной доменной структуры получены в базисной плоскости образцов объемных одноосных кристаллов Nd₂Fe₁₄B и Y₂(Fe_xCo_1–x)₁₇ (x = 0.18, 0.41) на различных высотах подъема зонда над образцом z с помощью магнитно-силового микроскопа. Предложен метод автоматического анализа изображений магнитно-силовой микроскопии. Рассчитано среднее число экстремумов на единицу длины n, построены зависимости n(z), получено аналитическое выражение для аппроксимации экспериментальных зависимостей. Путем аппроксимации экспериментальных данных и экстраполяции их к точке z = 0 получено значение среднего числа экстремумов на единицу длины n₀ на поверхности образца. Значения средней ширины доменов D и поверхностной плотности энергии доменных границ γ рассчитаны на основе значений n₀.

8 0