By this author

COMPUTER DIFFRACTION TOMOGRAPHY. DIGITAL IMAGE PROCESSING AND ANALYSIS BASED ON THE 1D-, 2D-SIZED GUIDED AND WAVELET-FUNCTION FILTER PROCESSING

Issue number 4 from 14.05.2025

Приводятся и анализируются результаты компьютерной обработки дифракционных изображений точечного дефекта кулоновского типа в кристалле Si(111), регистрируемых рентгеновским детектором на фоне гауссовского шума, и последующей их фильтрации с использованием управляемого фильтра и эвристического вейвлета с атомной функцией Добеши четвертого порядка. Эффективность фильтрации топографического изображения определяется параметром усредненного по всем точкам относительного квадратичного отклонения пиксель-интенсивностей (RMS) обработанного и точного (незашумленного) 2D-изображений. Предложены применимые в практической работе методы выбора параметров фильтрации. При их использовании рассматриваемые методы можно с успехом применять для шумовой обработки рентгеновских 2D-изображений, имея в виду их последующее использование для цифровой 3D-реконструкции наноразмерных дефектов кристаллов.

13 0

Computer diffraction tomography: a comparative analysis of the use of controlled and wavelet filters for image processing

Issue number 5 from 15.09.2025

Проведена цифровая обработка рентгеновских проекционных 2D-изображений точечного дефекта кулоновского типа в кристалле Si(111), регистрируемых детектором на фоне статистического гауссовского шума, с использованием управляемого фильтра и вейвлет-фильтра с функцией Добеши 4-го порядка. Эффективность фильтрации 2D-изображений определяется путем расчета усредненных по всем точкам относительных квадратичных отклонений интенсивностей фильтрованного и эталонного (незашумленного) 2D-изображений. Сравнение рассчитанных величин среднеквадратичных относительных отклонений интенсивностей показывает, что рассматриваемые методы работают достаточно хорошо и могут эффективно использоваться на практике для шумовой обработки рентгеновских дифракционных изображений, используемых для 3D-реконструкции наноразмерных дефектов кристаллических структур.

12 0