Статьи автора

КОМПЬЮТЕРНАЯ ДИФРАКЦИОННАЯ МИКРОТОМОГРАФИЯ. ЦИФРОВАЯ ОБРАБОТКА И АНАЛИЗ ИЗОБРАЖЕНИЙ НА ОСНОВЕ 1D-, 2D-УПРАВЛЯЕМОЙ И ВЕЙВЛЕТ-ФИЛЬТРАЦИИ

от 01.04.2025

Приводятся и анализируются результаты компьютерной обработки дифракционных изображений точечного дефекта кулоновского типа в кристалле Si(111), регистрируемых рентгеновским детектором на фоне гауссовского шума, и последующей их фильтрации с использованием управляемого фильтра и эвристического вейвлета с атомной функцией Добеши четвертого порядка. Эффективность фильтрации топографического изображения определяется параметром усредненного по всем точкам относительного квадратичного отклонения пиксель-интенсивностей (RMS) обработанного и точного (незашумленного) 2D-изображений. Предложены применимые в практической работе методы выбора параметров фильтрации. При их использовании рассматриваемые методы можно с успехом применять для шумовой обработки рентгеновских 2D-изображений, имея в виду их последующее использование для цифровой 3D-реконструкции наноразмерных дефектов кристаллов.

90 0

КОМПЬЮТЕРНАЯ ДИФРАКЦИОННАЯ МИКРОТОМОГРАФИЯ. ЦИФРОВАЯ ОБРАБОТКА И АНАЛИЗ ИЗОБРАЖЕНИЙ НА ОСНОВЕ 1D-, 2D-УПРАВЛЯЕМОЙ И ВЕЙВЛЕТ-ФИЛЬТРАЦИИ

Номер выпуска 4 от 01.04.2025

Приводятся и анализируются результаты компьютерной обработки дифракционных изображений точечного дефекта кулоновского типа в кристалле Si(111), регистрируемых рентгеновским детектором на фоне гауссовского шума, и последующей их фильтрации с использованием управляемого фильтра и эвристического вейвлета с атомной функцией Добеши четвертого порядка. Эффективность фильтрации топографического изображения определяется параметром усредненного по всем точкам относительного квадратичного отклонения пиксель-интенсивностей (RMS) обработанного и точного (незашумленного) 2D-изображений. Предложены применимые в практической работе методы выбора параметров фильтрации. При их использовании рассматриваемые методы можно с успехом применять для шумовой обработки рентгеновских 2D-изображений, имея в виду их последующее использование для цифровой 3D-реконструкции наноразмерных дефектов кристаллов.

11 0