Статьи автора

Дефектная кристаллическая структура α-Na0.5–xR0.5+xF2+2x (R = Dy–Lu, Y) по данным рентгеновской и электронной дифракции. I. Методика моделирования дефектной структуры на примере α-Na0.35Dy0.65F2.30

Номер выпуска 5 от 14.09.2025

Впервые методом рентгеновской дифракции при 293 и 85 К и дифракции электронов при 293 К изучен кристалл α-Na_0.35Dy_0.65F_2.30. Унифицированная кластерная модель дефектной структуры наноструктурированных кристаллов со структурой типа флюорита, основанная на полиморфизме упорядоченных фаз KR₃F₁₀ (R = Er, Yb), расширена моделью матричной части на основе структуры соединения KYF₄. Унифицированная кластерная модель применена для построения дефектной структуры α-Na_0.35Dy_0.65F_2.30. Установлено, что матричная часть кристалла содержит катионы Na⁺ и Dy³⁺ в соотношении 1 : 1. Часть анионов матрицы смещена в позиции 32f (пр. гр. Fm3m). Избыток Dy³⁺ образует с Na⁺ октаэдро-кубические кластеры [Na_14–nDy_nF_64+n] с ядрами в виде искаженных и правильных кубооктаэдров {F₁₂}. Они составлены межузельными анионами в двух позициях 32f и одной 48i. Кластерная составляющая кристалла α-Na_0.35Dy_0.65F_2.30 содержит октаэдро-кубические кластеры f-, f–i- и i-типов. Методом электронной дифракции показано, что α-Na_0.35Dy_0.65F_2.30 является наноструктурированным кристаллом. Его кластерная составляющая имеет форму пластинчатых выделений толщиной ~5 нм со сверхструктурным упорядочением и единичные октаэдро-кубические кластеры. Предложена модель их структуры. Понижение температуры до 85 К приводит к увеличению количества межузельных анионов F_(32f)1 в матричной составляющей кристалла.

2 0

Дефектная структура α-NA0.5–xR0.5+xF2+2x (R = DY–LU, Y) по данным рентгеновской и электронной дифракции. II. дефектная структура наноструктурированных кристаллов α-NA0.4R0.6F2.2 (R = Ho–Lu, Y)

Номер выпуска 6 от 14.09.2025

Методом рентгеноструктурного анализа при 293 и 85 К изучены кристаллы α-Na_0.4R_0.6F_2.2 (R = Ho–Lu, Y). Для моделирования их дефектной структуры применена унифицированная кластерная модель наноструктурированных кристаллов со структурой типа флюорита, основанная на полиморфизме соединения KR₃F₁₀ (R = Er, Yb). Матричная составляющая α-Na_0.4R_0.6F_2.2 содержит Na⁺ и R³⁺ в отношении 1 : 1. Часть анионов матрицы смещена из позиции 8с в позицию 32f (пр. гр. Fm3m). Избыток R³⁺ образует с Na⁺ октаэдро-кубические кластеры с ядрами в форме кубооктаэдров {F₁₂}, образованных межузельными анионами в позиции 48i. Кластерная составляющая α-Na_0.4R_0.6F_2.2 образована октаэдро-кубическими кластерами i-типа. Метод дифракции электронов показал, что кластеры имеют форму пластинок толщиной ~5 нм со сверхструктурным упорядочением. Предложена их модель на основе структуры K_0.265Gd_0.735F_2.47. Впервые методом дифракции электронов получено экспериментальное подтверждение принадлежности α-Na_0.5–xR_0.5+xF_2+2x к наноструктурированным кристаллам. При понижении температуры от 293 до 85 К тип кластерной составляющей дефектной структуры α-Na_0.4R_0.6F_2.2 с R = Ho–Lu, Y не меняется. При 293 К граница смены типа дефектной структуры в ряду α-Na_0.5–xR_0.5+xF_2+2x расположена между R = Dy (Z = 66) и Ho (Z = 67). При понижении температуры от 293 до 85 К положение границы не изменяется.

2 0