By this author

Thin textured CdTe films on silicon and sapphire substrates: thermal vapor deposition and structural characterization

Issue number 2 from 15.09.2025

Методом термического напыления из газовой фазы выращены тонкие пленки CdTe на подложках Si (111) и Al₂O₃ (0001). Полученные пленки изучены методами атомно-силовой и растровой электронной микроскопии, а также рентгенофазового анализа. Обнаружено, что на подложках Al₂O₃ (0001) возможно получение тонких пленок как вюрцитной модификации CdTe, так и сфалеритной. На подложках Si возможно получение тонких пленок сфалеритной модификации CdTe. Показано, что элементный состав тонких пленок близок к стехиометрии, причем в случае тонких пленок, выращенных на Al₂O₃ (0001), отклонение не превышало 1 ат. %.

10 0