By this author

THE STUDY OF GROWTH DEFECTS IN CUBIC SINGLE CRYSTALS OF SYNTHETIC DIAMOND USING X-RAY TOPO-TOMOGRAPHY

Issue number 4 from 15.09.2025

Представлены результаты исследования пространственного распределения линейных дефектов в монокристаллах синтетических алмазов кубооктаэдрического габитуса, выращенных в лабораторных условиях методом HPHT вблизи линии равновесия алмаз–графит. Впервые для исследования синтетических алмазов данного типа использовался метод рентгеновской топо-томографии, реализованный на лабораторном источнике рентгеновского излучения.

16 0