Определение структуры слабоупорядоченных пленок по данным рентгеновской дифракции
Определение структуры слабоупорядоченных пленок по данным рентгеновской дифракции
Аннотация
Код статьи
S0023476124030163-1
Тип публикации
Статья
Статус публикации
Опубликовано
Авторы
Астафьев С. Б.  
Аффилиация: Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова Курчатовского комплекса кристаллографии и фотоники НИЦ “Курчатовский институт”
Страницы
505-510
Аннотация
Предложен метод поиска параметров структурных моделей слабоупорядоченных тонких пленок по данным рентгеновской дифракции, содержащих небольшое количество рефлексов. Разработанный метод позволяет сузить количество возможных структурных моделей, несмотря на малое число интерференционных максимумов, определить параметры возможных элементарных ячеек и проиндексировать соответствующие пики на дифрактограммах. Показано, как привлечение априорных данных позволяет получить физически адекватные решения. Методика определения структурных параметров продемонстрирована на примере анализа экспериментальной кривой, содержащей всего три дифракционных пика (максимума). Соответствующие алгоритмы поиска реализованы в рамках аналитического программного комплекса BARD (Basic Analisys of xRay Diffraction).
Классификатор
Получено
04.09.2024
Всего подписок
0
Всего просмотров
23
Оценка читателей
0.0 (0 голосов)
Цитировать   Скачать pdf

Библиография

1. Rietveld H. // J. Appl. Cryst. 1969. V. 2. P. 65. http://doi.org/10.1107/S0021889869006558

2. Астафьев С.Б., Янусова Л.Г. // Кристаллография. 2022. Т. 67. № 3. С. 491. http://doi.org/10.31857/S0023476122030031

3. Астафьев С.Б., Янусова Л.Г. // Кристаллография. 2012. Т. 57. № 1. С. 141.

4. Maiorova L., Konovalov O., Yanusova L. et al. // International Conference on Porphyrins and Phthalocyanines (ICPP-11) 28.06–3.07.2021. USA. Book of Abstracts. P. 277. http://doi.org/10.13140/RG.2.2.29250.91846

5. Гусев А.И. Наноматериалы, наноструктуры, нанотехнологии. М.: Наука–Физматлит, 2007. 416 с.

Комментарии

Сообщения не найдены

Написать отзыв
Перевести