Определение структуры слабоупорядоченных пленок по данным рентгеновской дифракции

Астафьев С. Б.

doi:10.31857/S0023476124030163

Русский

Главная>Номер выпуска 3>Определение структуры слабоупорядоченных пленок по данным рентгеновской дифракции

Определение структуры слабоупорядоченных пленок по данным рентгеновской дифракции

Оглавление

Аннотация Оценить Содержание публикации

Библиография Комментарии

Определение структуры слабоупорядоченных пленок по данным рентгеновской дифракции

Аннотация

Код статьи

S0023476124030163-1

Тип публикации

Статья

Статус публикации

Опубликовано

Авторы

Астафьев С. Б. Связаться с автором

Аффилиация: Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова Курчатовского комплекса кристаллографии и фотоники НИЦ “Курчатовский институт”

Выпуск

Том 69 Номер выпуска 3

Страницы

505-510

Аннотация

Предложен метод поиска параметров структурных моделей слабоупорядоченных тонких пленок по данным рентгеновской дифракции, содержащих небольшое количество рефлексов. Разработанный метод позволяет сузить количество возможных структурных моделей, несмотря на малое число интерференционных максимумов, определить параметры возможных элементарных ячеек и проиндексировать соответствующие пики на дифрактограммах. Показано, как привлечение априорных данных позволяет получить физически адекватные решения. Методика определения структурных параметров продемонстрирована на примере анализа экспериментальной кривой, содержащей всего три дифракционных пика (максимума). Соответствующие алгоритмы поиска реализованы в рамках аналитического программного комплекса BARD (Basic Analisys of xRay Diffraction).

Классификатор

Получено

04.09.2024

Всего подписок

Всего просмотров

Оценка читателей

0.0 (0 голосов)

Цитировать Скачать pdf

ГОСТ	Астафьев С. Определение структуры слабоупорядоченных пленок по данным рентгеновской дифракции // Кристаллография. – 2024. – T. 69. – Номер выпуска 3 C. 505-510 . URL: https://crystallographyras.ru/s0023476124030163-1/?version_id=105472. DOI: 10.31857/S0023476124030163
MLA	Astaf’ev, S. B "Determination of the structure of weakly ordered films according to x-ray diffraction data." Crystallography Reports. 69.3 (2024).:505-510. DOI: 10.31857/S0023476124030163
APA	Astaf’ev S. (2024). Determination of the structure of weakly ordered films according to x-ray diffraction data. Crystallography Reports. vol. 69, no. 3, pp.505-510 DOI: 10.31857/S0023476124030163

Библиография

1. Rietveld H. // J. Appl. Cryst. 1969. V. 2. P. 65. http://doi.org/10.1107/S0021889869006558

2. Астафьев С.Б., Янусова Л.Г. // Кристаллография. 2022. Т. 67. № 3. С. 491. http://doi.org/10.31857/S0023476122030031

3. Астафьев С.Б., Янусова Л.Г. // Кристаллография. 2012. Т. 57. № 1. С. 141.

4. Maiorova L., Konovalov O., Yanusova L. et al. // International Conference on Porphyrins and Phthalocyanines (ICPP-11) 28.06–3.07.2021. USA. Book of Abstracts. P. 277. http://doi.org/10.13140/RG.2.2.29250.91846

5. Гусев А.И. Наноматериалы, наноструктуры, нанотехнологии. М.: Наука–Физматлит, 2007. 416 с.

Библиография

Комментарии

Войти через