ОФНКристаллография Crystallography Reports

  • ISSN (Print) 0023-4761
  • ISSN (Online) 3034-5510

Плазмон-поляритоны ТЕ- и ТМ-типов в пленке металла, граничащей со сверхрешеткой. III. Плазмон-поляритоны в двухслойной сверхрешетке

Код статьи
S0023476125030181-1
DOI
10.31857/S0023476125030181
Тип публикации
Статья
Статус публикации
Опубликовано
Авторы
Том/ Выпуск
Том 70 / Номер выпуска 3
Страницы
511-519
Аннотация
Теоретически исследуются ТЕ- и ТМ-поляризованные поверхностные плазмон-поляритоны в пленке металла, находящейся в контакте с полубесконечной периодической сверхрешеткой, образованной чередующимися слоями двух материалов. Показано, что в определенном случае частотная зависимость импедансов такой двухслойной сверхрешетки может быть только двух типов из трех возможных. Рассчитаны дисперсионные кривые ТE- и ТМ-поляризованных поверхностных плазмон-поляритонов в пленке серебра для ряда структур, состоящих из различных комбинаций двухслойных сверхрешеток, содержащих слои кварца и оксида титана. Результаты расчетов сравниваются с выводами общей теории о максимальном числе поверхностных плазмон-поляритонов. Анализируется влияние поглощения электромагнитных волн в пленке на характеристики поверхностных плазмон-поляритонов.
Ключевые слова
Дата публикации
15.09.2025
Год выхода
2025
Всего подписок
0
Всего просмотров
11

Библиография

  1. 1. Даринский А.Н. // Кристаллография. 2024. Т. 69. № 6. С. 1018. https://doi.org/10.31857/S0023476124060123
  2. 2. Даринский А.Н. // Кристаллография. 2024. Т. 69. № 6. С. 1029. https://doi.org/10.31857/S0023476124060136
  3. 3. Yariv А., Yeh P. Photonics: Optical Electronics in Modern Communications. 6th ed. Oxford University Press, 2007. 850 p.
  4. 4. Басс Ф.Г., Булгаков А.А., Тетервов А.П. Высокочастотные свойства полупроводников со сверхрешетками. М.: Наука, 1989. 288 с.
  5. 5. Shuvalov A.L., Poncelet O., Golkin S.V. // Proc. R. Soc. A. 2009. V. 465. P. 1489. http://dx.doi.org/ doi:10.1098/rspa.2008.0457
  6. 6. Pavlichenko I., Exner A., Lugli P. et al. // J. Intell. Mater. Syst. Struct. 2012. V. 24. P. 2204. https://doi.org/10.1177/1045389X12453970
  7. 7. Mbakop F.K., Djongyang N., Raïdandi D. // J. Eur. Opt. Soc.-Rapid Publ. 2016. V. 12. P. 1. https://doi.org/10.1186/s41476-016-0026-4
  8. 8. Saravanan S., Dubey R.S. // Nanosyst.: Phys., Chem., Math. 2019. V. 10. P. 63. https://doi.org/10.17586/2220-8054-2019-10-1-63-69
  9. 9. Романова В.А., Матюшкин Л.Б., Мошников В.А. // Физика и химия стекла. 2018. Т. 44. С. 11. https://doi.org/10.1134/S1087659618010108
  10. 10. Mbakop F.K., Tom A., Dadjé A. et al. // Chin. J. Phys. 2020. V. 67. P. 124. https://doi.org/10.1016/j.cjph.2020.06.004
  11. 11. https://refractiveindex.info
  12. 12. Sarkar S., Gupta V., Kumar M. et al. // ACS Appl. Mater. Interfaces. 2019. V. 11. P. 13752. https://doi.org/10.1021/acsami.8b20535
  13. 13. Lemarchand F. Private communications. 2013.
  14. 14. Yang H.U., D'Archangel J., Sundheimer M.L. et al. // Phys. Rev. B. 2015. V. 91. P. 235137. https://doi.org/10.1103/PhysRevB.91.235137
  15. 15. Ландау Л.Д., Лифшиц Е.М. Теоретическая физика. Электродинамика сплошных сред. 2-е изд., испр. М.: Наука, 1982. 621 с.
QR
Перевести

Индексирование

Scopus

Scopus

Scopus

Crossref

Scopus

Высшая аттестационная комиссия

При Министерстве образования и науки Российской Федерации

Scopus

Научная электронная библиотека