ОФНКристаллография Crystallography Reports

  • ISSN (Print) 0023-4761
  • ISSN (Online) 3034-5510

Обработка и анализ изображений магнитно-силовой микроскопии, полученных на объемных одноосных кристаллах

Код статьи
S0023476125030195-1
DOI
10.31857/S0023476125030195
Тип публикации
Статья
Статус публикации
Опубликовано
Авторы
Том/ Выпуск
Том 70 / Номер выпуска 3
Страницы
520-528
Аннотация
Изображения полей рассеяния магнитной доменной структуры получены в базисной плоскости образцов объемных одноосных кристаллов Nd2Fe14B и Y2(FexCo1–x)17 (x = 0.18, 0.41) на различных высотах подъема зонда над образцом z с помощью магнитно-силового микроскопа. Предложен метод автоматического анализа изображений магнитно-силовой микроскопии. Рассчитано среднее число экстремумов на единицу длины n, построены зависимости n(z), получено аналитическое выражение для аппроксимации экспериментальных зависимостей. Путем аппроксимации экспериментальных данных и экстраполяции их к точке z = 0 получено значение среднего числа экстремумов на единицу длины n0 на поверхности образца. Значения средней ширины доменов D и поверхностной плотности энергии доменных границ γ рассчитаны на основе значений n0.
Ключевые слова
Дата публикации
14.09.2025
Год выхода
2025
Всего подписок
0
Всего просмотров
9

Библиография

  1. 1. Kittel C. // Phys. Rev. 1946. V. 70. P. 965. https://doi.org/10.1103/PhysRev.70.965
  2. 2. Bodenberger R., Hubert A. // Phys. Status Solidi. A. 1977. V. 44. P. 7. https://doi.org/10.1002/pssa.2210440146
  3. 3. Szmaja W., Grobelny J., Cichomski M. // Acta Mater. 2011. V. 59. P. 531. https://doi.org/10.1016/j.actamat.2010.09.056
  4. 4. Corner W.D., Hawton M.J. // J. Magn. Magn. Mater. 1988. V. 72. P. 59. https://doi.org/10.1016/0304-8853 (88)90270-3
  5. 5. Pastushenkov J., Forkl A., Kronmüller H. // J. Magn. Magn. Mater. 1991. V. 101. P. 363. https://doi.org/10.1016/0304-8853 (91)90780-E
  6. 6. Kazakova O., Puttock R., Barton C. // J. Appl. Phys. 2019. V. 125. 060901. https://doi.org/10.1063/1.5050712
  7. 7. Schulz T., Burch G., Kunz A., Dahlberg E.D. // IEEE Trans. Magn. 2010. V. 46. P. 1752. https://doi.org/10.1109/TMAG.2009.2039701
  8. 8. Baumeister W., Grütter P., Guckenberger R. Scanning Tunneling Microscopy II: Further Applications and Related Scanning Techniques. Springer Science and Business Media, 2013. V. 28.
  9. 9. Bramowicz M., Kulesza S., Czaja P., Maziarz W. // Arch. Metall. Mater. 2014. V. 59. P. 451. https://doi.org/10.2478/amm-2014-0075
  10. 10. Obara G., Sakurai T., Ono O. // IEEE Trans. Magn. 2019. V. 55. P. 1. https://doi.org/10.1109/TMAG.2019.2895671
  11. 11. Al-Khafaji M.A., Marashi S.P.H., Rainforth W.M. // J. Magn. Magn. Mater. 1998. V. 190. P. 48. https://doi.org/10.1016/S0304-8853 (98)00278-9
  12. 12. Al-Khafaji M.A., Rainforth W.M., Gibbs M.R.J. // IEEE Trans. Magn. 1996. V. 32. P. 4138. https://doi.org/10.1109/20.539319
  13. 13. Al-Khafaji M.A., Rainforth W.M., Gibbs M.R.J. // J. Appl. Phys. 1998. V. 83. P. 6411. https://doi.org/10.1063/1.367536
  14. 14. Angeloni L., Passeri D., Corsetti S. // Nanoscale. 2017. V. 9. P. 18000. https://doi.org/10.1039/C7NR05742C
  15. 15. Zueco E., Rave W., Schäfer R. // J. Magn. Magn. Mater. 1998. V. 190. P. 42. https://doi.org/10.1016/S0304-8853 (98)00268-6
  16. 16. Sagawa M., Fujimura S., Yamamoto H. // IEEE Trans. Magn. 1984. V. 20. P. 1584. https://doi.org/10.1109/tmag.1984.1063214
  17. 17. Sinkevich A.I., Karpenkov A.Y., Lyakhova M.B. // Phys. B: Condens. Matter. 2025. V. 696. P. 416637. https://doi.org/10.1016/j.physb.2024.416637
  18. 18. Alekseev A., Popkov A., Shubin A. // Ultramicroscopy. 2014. V. 136. P. 91. https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2013.08.007
  19. 19. Vaka M., Ray J., Campos M., Chesnel K. // AIP Adv. 2023. V. 13. 025109. https://doi.org/10.1063/9.0000610
  20. 20. Mainsah E., Greenwood J.A., Chetwynd D.G. Metrology and properties of engineering surfaces. Springer Science and Business Media, 2001.
  21. 21. Sagawa M., Fujimura S., Yamamoto H. // J. Appl. Phys. 1985. V. 57. P. 4094. https://doi.org/10.1063/1.334629
QR
Перевести

Индексирование

Scopus

Scopus

Scopus

Crossref

Scopus

Высшая аттестационная комиссия

При Министерстве образования и науки Российской Федерации

Scopus

Научная электронная библиотека