- Код статьи
- S30345510S0023476125050137-1
- DOI
- 10.7868/S3034551025050137
- Тип публикации
- Статья
- Статус публикации
- Опубликовано
- Авторы
- Том/ Выпуск
- Том 70 / Номер выпуска 5
- Страницы
- 824-829
- Аннотация
- Представлены результаты исследования низкоэнергетических вторичных электронных спектров пленок фторзамещенного фуран-фениленового соолигомера в энергетическом диапазоне от 5 до 20 эВ выше EF. Проведено термическое вакуумное осаждение пленок толщиной 8–10 нм на поверхностях подложек кремния и послойно осажденного ZnO. Установлены взаиморасположение основных максимумов плотности электронных состояний в зоне проводимости исследованных пленок и характеристики пограничного потенциального барьера между пленками и поверхностями подложек. Проведены исследования топографии поверхности тонких пленок фторзамещенного фуран-фениленового соолигомера методом атомно-силовой микроскопии. Пленки на поверхности ZnO имеют зернистую структуру при диаметре зерна в плоскости поверхности ~100 нм. На поверхности кремния зерна имеют удлиненную форму, характерную для микровискеров.
- Ключевые слова
- Дата публикации
- 27.06.2025
- Год выхода
- 2025
- Всего подписок
- 0
- Всего просмотров
- 42
Библиография
- 1. Sosorev A.Y., Nuraliev M.K., Feldman E.V. et al. // Phys. Chem. Chem. Phys. 2019. V. 21. P. 11578. https://doi.org/10.1039/C9CP00910H
- 2. Nenashev G.V., Aleshin A.N., Ryabko A.A. et al. // Solid State Commun. 2024. V. 388. P. 115554. https://doi.org/10.1016/j.ssc.2024.115554
- 3. Shaposhnik P.A., Trul A.A., Poimanova E.Yu. et al. // Org. Electron. 2024. V. 129. P. 107047. https://doi.org/10.1016/j.orgel.2024.107047
- 4. Koskin I.P., Becker Ch.S., Sonina A.A. et al. // Adv. Funct. Mater. 2021. V. 31. P. 2104638. https://doi.org/10.1002/adfm.202104638
- 5. Mannanov A.A., Kazantsev M.S., Kuimov A.D. et al. // J. Mater. Chem. C. 2019. V. 7. P. 60. https://doi.org/10.1039/C8TC04151B
- 6. Kazantsev M.S., Frantseva E.S., Kudriashova L.G. et al. // RSC Adv. 2016. V. 6. P. 92325. https://doi.org/10.1039/C6RA23160H
- 7. Hill I.G., Schwartz J., Kahn A. // Org. Electron. 2000 V. 1. P. 5. https://doi.org/10.1016/S1566-1199 (00)00002-1
- 8. Krzywiecki M., Smykala S., Kurek J. et al. // Phys. Chem. Chem. Phys. 2022. V. 24. P. 11828. http://doi.org/10.1039/D2CP00844K
- 9. Komolov A.S., Akhremtchik S.N., Lazneva E.F. // Spectrochim. Acta. A. 2011. V. 798. P. 708. https://doi.org/10.1016/j.saa.2010.08.042
- 10. Sharopov U.B., Abdusalomov A., Kakhramonov A. et al. // Vacuum. 2023. V. 213. P. 112133. https://doi.org/10.1016/j.vacuum.2023.112133
- 11. Frankenstein H., Leng C.Z., Losego M.D. et al. // Org. Electron. 2019. V. 64. P. 37. https://doi.org/10.1016/j.orgel.2018.10.002
- 12. Walter T.N., Lee S., Zhang X. et al. // Appl. Surf. Sci. 2019. V. 480. P. 43. https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2019.02.182
- 13. Pronin I.A., Plugin I.A., Kolosov D.A. et al. // Sens. Actuators. A. 2024. V. 377. P. 115707. https://doi.org/10.1016/j.sna.2024.115707
- 14. Cauduro A.L.F., dos Reis R., Chen G. et al. // Ultramicroscopy. 2017. V. 183. P. 99. https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2017.03.025
- 15. Комолов А.С., Дубов Е.А., Убович М. и др. // Изв. РАН. Сер. физ. 2025. Т. 89. Вып. 3. C. 392. https://doi.org/10.31857/S0367676525030094
- 16. Komolov A.S., Moeller P.J. // Appl. Surf. Sci. 2005. V. 244. P. 573. https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2004.10.122
- 17. Комолов А.С., Пронин И.А., Лазнева Э.Ф. и др. // Кристаллография 2024. Т. 69. № 4. С. 670. https://doi.org/10.31857/S0023476124040139
- 18. Pshenichnyuk S.A., Asfandiarov N.L., Rahmeev R.G. et al. // J. Chem. Phys. 2024. V. 161. P. 114303. https://doi.org/10.1063/5.0232036
- 19. Pshenichnyuk S.A., Modelli A., Lazneva E.F. et al. // J. Phys. Chem. A. 2016. V. 120. P. 2667. https://doi.org/10.1021/acs.jpca.6b02272
- 20. Garcia-Basabe Y., Pedrozo-Penafiel M.J., Figueredo I.S. et al. // J. Phys. Chem. C. 2025. V. 129. P. 8783. https://doi.org/10.1021/acs.jpcc.5c01259
- 21. Komolov A., Schaumburg K., Moeller P.J. et al. // Appl. Surf. Sci. 1999. V. 142. P. 591. https://doi.org/10.1016/S0169-4332 (98)00924-6
- 22. Hwang J., Wan A., Kahn A. // Mater. Sci. Eng. R. Rep. 2009. V. 64. P. 1. https://doi.org/10.1016/j.mser.2008.12.001
- 23. Pronin I.A., Averin I.A., Karmanov A.A. et al. // Nanomaterials. 2022. V. 12. P. 1924. https://doi.org/10.3390/nano12111924
- 24. Komolov A.S., Lazneva E.F., Akhremtchik S.N. // Appl. Surf. Sci. 2010. V. 256. P. 2419. https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2009.10.078
- 25. Bartos I. // Progr. Surf. Sci. 1998. V. 59. P. 197. https://doi.org/10.1016/S0079-6816 (98)00046-X
- 26. Komolov A.S., Moeller P.J., Aliaev Y.G. et al. // J. Mol. Struct. 2005. V. 744–747. P. 145. http://doi.org/10.1016/j.molstruc.2005.01.047
- 27. Sharopov U.B., Kaur K., Kurbanov M.K. et al. // Silicon. 2022. V. 14. P. 4661. https://doi.org/10.1007/s12633-021-01268-0
- 28. Sharopov U.B., Kaur K., Kurbanov M.K. et al. // Thin Solid Films. 2021. V. 735. P. 138902. https://doi.org/10.1016/j.tsf.2021.138902
- 29. Sharopov U., Gopparov U., Rashidov K. et al. // Radiat. Eff. Defects Solids. 2023. V. 178. P. 539. https://doi.org/10.1080/10420150.2022.2133716
- 30. Komolov A.S., Lazneva E.F., Gerasimova N.B. et al. // J. Electron. Spectrosc. Relat. Phenom. 2019. V. 235. P. 40. https://doi.org/10.1016/j.elspec.2019.07.001
- 31. Shu A.L., McClain W.E., Schwartz J. et al. // Org. Electron. 2014. V. 15. P. 2360. https://doi.org/10.1016/j.orgel.2014.06.039
- 32. Braun S., Salaneck W., Fahlman M. // Adv. Mater. 2009. V. 21. P. 1450. https://doi.org/10.1002/adma.200802893
