- Код статьи
- 10.31857/S0023476124020135-1
- DOI
- 10.31857/S0023476124020135
- Тип публикации
- Статья
- Статус публикации
- Опубликовано
- Авторы
- Том/ Выпуск
- Том 69 / Номер выпуска 2
- Страницы
- 290-302
- Аннотация
- Проведено исследование структуры и оптических свойств кристаллов семейства лангасита (La1 – хNdх)3Ga5SiO14 с разным содержанием Nd. Выполнен расчет вращения плоскости поляризации света ρ для данных кристаллов из измеренных спектров пропускания в поляризованном свете. Показано, что при малой величине ρ (~3–5 град/мм) для получения лучших результатов нужно использовать спектры пропускания не при параллельных и скрещенных поляризаторах, как обычно принято, а при разных углах между ними, например ±45º. Проведено измерение циркулярного дихроизма данных кристаллов. С помощью соотношений Крамерса–Кронига определена связь между полосами циркулярного дихроизма и изменением вращения плоскости поляризации света в области полос поглощения. Рассчитаны дисперсии величин ρ с учетом поглощения в диапазоне длин волн 400–1000 нм для кристаллов (La0.6Nd0.4)3Ga5SiO14, (La0.4Nd0.6)3Ga5SiO14, Nd3Ga5SiO14 и проведено их сравнение с дисперсией ρ для кристалла лангасита La3Ga5SiO14. Проведен расчет средних показателей преломления и параметров оптической активности данных кристаллов из структурных данных. Показано, что зависимость от параметров элементарной ячейки средних показателей преломления и величин ρ, рассчитанных в приближении отсутствия поглощения, является линейной. При этом для экспериментальных значений ρ такой линейной зависимости не наблюдается, что связано с влиянием поглощения и особенностями структуры (нелинейным изменением геометрии оптически активных областей электронной плотности при замене части La на Nd).
- Ключевые слова
- Дата публикации
- 15.09.2025
- Год выхода
- 2025
- Всего подписок
- 0
- Всего просмотров
- 16
Библиография
- 1. Белоконева Е.Л., Симонов М.А., Милль Б.В. и др. // Докл. АН СССР. 1980. Т. 255. № 5. С. 1099.
- 2. Каминский А.А., Милль Б.В., Саркисов С.Э. // Физика и спектроскопия лазерных кристаллов. М.: Наука, 1986. С. 197.
- 3. АО Фомос-Материалы, Москва. https://newpiezo.com
- 4. Kaminskii A.A., Belokoneva E.L., Mill B.V. et al. // Phys. Status Solidi. A. 1984. V. 86. P. 345. https://doi.org/10.1002/pssa.2210860139
- 5. Mill B.V., Pisarevsky Yu.V. // Proc. 2000 IEEE/EIA Intern. Frequency Control Symp., Kansas City, Missouru, USA. P. 133.
- 6. Mill B.V., Belokoneva E.L., Fukuda T. // Rus. J. Inorg. Chem. 1998. V. 43. P. 1032.
- 7. Кугаенко О.М., Торшина Е.С., Петраков В.С. и др. // Изв. вузов. Материалы электронной техники. 2014. Т. 17. № 3. С. 174. https://doi.org/10.17073/1609-3577-2014-3-174-182
- 8. Балышева О.Л., Клудзин В.В., Кулаков С.В., Дмитриев В.Ф. // Информационно-измерительные системы. 2012. № 6. С. 67.
- 9. Андреев И.А., Дубовик М.Ф. // Письма в ЖЭТФ. 1984. Т. 10. С. 487.
- 10. Kaminskii A.A., Mill B.V., Khodzhabagyan G.G. et al. // Phys. Status Solidi. A. 1983. V. 80. P. 387. https://doi.org/10.1002/pssa.2210800142
- 11. Батурина О.А., Гречушников Б.Н., Каминский А.А. и др. // Кристаллография. 1987. Т. 32. Вып. 2. С. 406.
- 12. Heimann R.B., Hengst M., Rossberg M., Bohm J. // Phys. Status Solidi. A. 2003. V. 198. № 2. P. 415. https://doi.org/10.1002/pssa.200306627
- 13. Wei A., Wang B., Qi H., Yuan D. // Cryst. Res. Technol. 2006. V. 41. № 4. P. 371. https://doi.org/10.1002/crat.200510589
- 14. Lyubutin I.S., Naumov P.G., Mill’ B.V. et al. // Phys. Rev. B. 2011. V. 84. P. 214425. https://doi.org/10.1103/PhysRevB.84.214425
- 15. Милль Б.В., Буташин А.В., Ходжабагян Г.Г. и др. // Докл. АН СССР. 1982. Т. 264. С. 1385.
- 16. Универсальная измерительная приставка Agilent Cary Universal Measurement Accessory (UMA) // Agilent Technologies. http://www.agilent.com/cs/library/technicaloverviews/public/5991-2529RU.pdf
- 17. Бёккер Ю. Спектроскопия. М.: Техносфера, 2009. 528 с.
- 18. Свиридов Д.Т., Свиридова Р.К., Смирнов Р.Ф. Оптические спектры ионов переходных металлов в кристаллах. М.: Наука, 1976. 267 с.
- 19. Бурков В.И., Буташин А.В., Федотов Е.В. и др. // Кристаллография. 2005. Т. 50. № 6. С. 1031.
- 20. Шубников А.В. Основы оптической кристаллографии. М.: Изд-во АН СССР, 1958. 207 с.
- 21. Шувалов Л.А., Урусовская А.А., Желудев И.С. и др. Современная кристаллография. Т. 4. Физические свойства кристаллов. М.: Наука, 1981. 496 с.
- 22. Константинова А.Ф., Гречушников Б.Н., Бокуть Б.В., Валяшко Е.Г. Оптические свойства кристаллов. Минск: Наука и техника, 1995. 302 с.
- 23. Джерасси К. Дисперсия оптического вращения. М.: Изд-во иностранной литературы, 1962. 400 с.
- 24. Rigaku Oxford Diffraction, 2018, CrysAlisPro Software system, version 1.171.39.46, Rigaku Corporation, Oxford, UK.
- 25. Дудка А.П., Рабаданов М.Х., Лошманов А.А. // Кристаллография. 1989. Т. 34. Вып. 4. С. 818.
- 26. Dudka A.// J. Appl. Cryst. 2010. V. 43. № 6. P. 1440. https://doi.org/10.1107/S0021889810037131
- 27. Petricek V., Dusek M., Palatinus L. // Z. Kristallogr. 2014. В. 229. № 5. S. 345. https://doi.org/10.1515/zkri-2014-1737
- 28. Максимов Б.А.,Молчанов В.Н., Милль Б.В. и др.// Кристаллография. 2005. Т. 50. № 5. С. 813.
- 29. Дудка А.П. // Кристаллография. 2017. Т. 62. № 2. С. 202. https://doi.org/10.7868/S0023476117020102
- 30. Iwataki T., Ohsato H., Tanaka K. et al. // J. Eur. Ceram. Soc. 2001. V. 21. P. 1409. https://doi.org/10.1016/S0955-2219 (01)00029-2
- 31. Дудка А.П., Милль Б.В. // Кристаллография. 2014. Т. 59. № 5. С. 759. https://doi.org/10.7868/S0023476114050038
- 32. Vegard L. // Z. Phys. 1921. B. 5. S. 17. https://doi.org/10.1007/BF01349680
- 33. Дудка А.П. // Кристаллография. 2017. Т. 62. № 3. С. 374. https://doi.org/10.7868/S0023476117030043
- 34. Бацанов С.С. Структурная рефрактометрия. М.: Высшая школа, 1976. 304 с.
- 35. Glazer A.M. // J. Appl. Cryst. 2002. V. 35. P. 652. https://doi.org/10.1107/S0021889802013997
- 36. Shannon R.D., Shannon R.C., Medenbach O., Fischer R.X. // J. Phys. Chem. Ref. Data. 2002. V. 31. № 4. P. 931. https://doi.org/10.1063/1.1497384
