- Код статьи
- 10.31857/S0023476124030079-1
- DOI
- 10.31857/S0023476124030079
- Тип публикации
- Статья
- Статус публикации
- Опубликовано
- Авторы
- Том/ Выпуск
- Том 69 / Номер выпуска 3
- Страницы
- 429-437
- Аннотация
- Проведено измерение спектров коэффициентов пропускания и показателей поглощения монодоменного и полидоменного образцов LaBGeO₅. Показано, что для более точного измерения вращения плоскости поляризации света ρ необходимо использовать спектры коэффициентов пропускания не только при параллельных и скрещенных поляризаторах, но и при других углах между ними. Полученные значения ρ для обоих образцов достаточно хорошо описываются одной дисперсией с помощью формулы Друде. Это согласуется с тем, что величина ρ не должна меняться при монодоменизации кристалла при данной симметрии (P31 в сегнетоэлектрической фазе и P3121 в параэлектрической). Показано, что генерация второй гармоники черенковского типа наблюдается только в полидоменном образце, при этом излучение второй гармоники не поляризовано. Доменная структура образцов наблюдалась методами растровой электронной микроскопии и силовой микроскопии пьезоотклика. Для полидоменного образца показано наличие лабиринтной доменной структуры, для монодоменного образца изменения контраста в пределах области сканирования не наблюдалось.
- Ключевые слова
- Дата публикации
- 14.09.2025
- Год выхода
- 2025
- Всего подписок
- 0
- Всего просмотров
- 68
Библиография
- 1. Каминский А.А., Буташин А.В., Милль Б.В., Белоконева Е.Л. // Изв. АН СССР. Неорган. матер. 1990. Т. 26. № 5. C. 1105.
- 2. Стефанович С.Ю., Милль Б.В., Буташин А.В. // Кристаллография. 1992. Т. 37. Вып. 4. С. 965.
- 3. Belokoneva E.L., David W.I.F., Forsyth J.B., Knight K.S. // J. Phys.: Condens. Matter. 1997. V. 9. P. 3503. https://doi.org/10.1088/0953-8984/9/17/002
- 4. Uesu У., Horiuchi N., Osakabe Е. et al. // J. Phys. Soc. Jpn. 1993. V. 62. Р. 2522. https://doi.org/10.1143/JPSJ.62.2522
- 5. Onodera А., Strukov В.А., Belov А.А. et al. // J. Phys. Soc. Jpn. 1993. V. 62. Р. 4311. https://doi.org/10.1143/JPSJ.62.4311
- 6. Милов Е.В., Струков Б.А. // ФТТ. 2001. Т. 43. С. 495.
- 7. Strukov В.А., Milov Е.Н., Milov V.N. et al. // Ferroelectrics. 2005. V. 314. Р. 105. https://doi.org/10.1080/00150190590926247
- 8. Akhmatkhanov A., Plashinnov C., Nebogatikov M. et al. // Crystals. 2020. V. 10. № 7. P. 583. https://doi.org/10.3390/cryst10070583
- 9. Kaminskii A.A., Butashin A.V., Maslyanitsin I.A. et al. // Phys. Status Solidi. A. 1991. V. 125. № 2. P. 671.
- 10. Kaminsky W. // Rep. Prog. Phys. 2000. V. 63. P. 1575. https://doi.org/10.1088/0034-4885/63/10/201
- 11. Каминский А.А., Нишиока Х., Уеда К. и др. // Квантовая электроника. 1996. Т. 23. № 5. С. 391.
- 12. Hirohashi J., Imai K., Watanabe S. et al. // Proc. SPIE10902, Nonlinear Frequency Generation and Conversion: Materials and Devices XVIII. 2019. P. 1090206. https://doi.org/10.1117/12.2514795
- 13. Универсальная измерительная приставка Agilent Cary Universal Measurement Accessory (UMA) // Agilent Technologies. http://www.agilent.com/cs/library/technicaloverviews/public/5991-2529RU.pdf
- 14. Шубников А.В., Флинт Е.Е., Бокий Г.Б. Основы кристаллографии. М.: Изд-во АН СССР, 1940. 488 с.
- 15. Шубников А.В. Основы оптической кристаллографии. М.: Изд-во АН СССР, 1958. 207 с.
- 16. Константинова А.Ф., Гречушников Б.Н., Бокуть Б.В., Валяшко Е.Г. Оптические свойства кристаллов. Минск: Наука и техника, 1995. 302 с.
- 17. Golovina T.G., Konstantinova A.F., Dudka A.P. et al. // Crystallography Reports. 2023. V. 68. № 5. P. 732. https://doi.org/10.1134/S106377452360045X
- 18. Кизель В.А., Бурков В.И. Гиротропия кристаллов. М.: Наука, 1980. 304 с.
- 19. Шувалов Л.А., Иванов Н.Р. // Кристаллография. 1964. Т. 9. Вып. 2. С. 363.
- 20. Головина Т.Г., Константинова А.Ф., Набатов Б.В., Евдищенко Е.А. // Кристаллография. 2018. Т. 63. № 6. С. 921. https://doi.org/10.1134/S0023476118060139
- 21. Ayoub M., Roedig P., Koynov K. et al. // Opt. Express. 2013. V. 21. № 7. P. 20117. https://doi.org/10.1364/OE.21.008220
- 22. Sheng Y., Saltiel S.M., Krolikowski W. et al. // Opt. Lett. 2010. V. 35. № 9. P. 1317. https://doi.org/10.1364/OL.35.001317
- 23. Sheng Y., Roppo V., Kalinowski Ks., Krolikowski W. // Opt. Lett. 2012. V. 37. № 18. P. 3864. https://doi.org/10.1364/OL.37.003864
- 24. Roede E.D., Mosberg A.B., Evans D.M. et al. // APL Mater. 2021. V. 9. № 2. P. 021105. https://doi.org/10.1063/5.0038909
- 25. Kholkin A.L., Kalinin S.V., Roelofs A., Gruverman A. // Scanning Probe Microscopy. Electricaland Electromechanical Phenomena at the Nanoscale / Eds. Kalinin S.V., Gruverman A. New York: Springer, 2007. P. 173.
- 26. Калинин А.С. Методы атомно-силовой микроскопии для неразрушающего анализа электромеханических свойств наноструктур. Дис. … канд. физ.-мат. наук. М.: НИЦ КИ, 2017. 104 с.
