- Код статьи
- 10.31857/S0023476124050082-1
- DOI
- 10.31857/S0023476124050082
- Тип публикации
- Статья
- Статус публикации
- Опубликовано
- Авторы
- Том/ Выпуск
- Том 69 / Номер выпуска 5
- Страницы
- 821-833
- Аннотация
- Методом гидротермального синтеза выращены кристаллы гексафторосиликата натрия Na2SiF6 миллиметрового размера. В ходе рентгеноструктурного анализа выявлено, что образцы Na2SiF6 сдвойникованы по мероэдрическому закону и кристаллизуются в пр. гр. Р321 с параметрами элементарной ячейки при 295 К = 8.8582(12), = 5.0396(11) Å, = 342.47(17) Å3, усредненными по результатам повторных измерений. Проведено многотемпературное дифракционное исследование Na2SiF6, по данным которого рассчитана температурная динамика оптических свойств кристаллов. Обнаружено структурное сходство кристаллов Na2SiF6 с кристаллами семейства лангасита La3Ga5SiO14. Это позволило объяснить оптическую активность Na2SiF6 путем рассмотрения аналогичных с лангаситом спиралей электронной плотности, закрученных вокруг тройной оси симметрии, проходящей через начало координат ячейки Na2SiF6. Изломы на температурных зависимостях показателей преломления и вращения плоскости поляризации света объясняются благодаря учету аномальных особенностей межатомных взаимодействий вдоль тройной оси ячейки кристалла, проходящей через позицию Si2(2d) с координатами (1/3, 2/3, z). Обнаружено, что главным фактором, влияющим на температурную динамику оптических параметров, является расстояние Si2(2d)–F2(6g), аномально возрастающее при охлаждении.
- Ключевые слова
- Дата публикации
- 14.09.2025
- Год выхода
- 2025
- Всего подписок
- 0
- Всего просмотров
- 10
Библиография
- 1. Zalkin A., Forrester J.D., Templeton D.H. // Acta Cryst. 1964. V. 17. P. 1408. https://doi.org/10.1107/S0365110X64003516
- 2. Arianpour F., Arianpour A.C., Aali B. // Silicon. 2021. V. 13. P. 4381. https://doi.org/10.1007/s12633-020-00755-0
- 3. Zhang W., Jing Q., Fang Yu., Chen Z. // Z. Anorg. Allg. Chem. 2017. V. 643. P. 1739. http://dx.doi.org/10.1002/zaac.201700322
- 4. Lang T.-C., Han T., Peng L.-L., Tu M.-J. // Mater. Chem. Front. 2017. V. 1. P. 928. https://doi.org/10.1039/C6QM00284F
- 5. Ha J., Novitskaya E., Lam N. et al. // J. Lumin. 2020. V. 218. P. 116835. https://doi.org/10.1016/j.jlumin.2019.116835
- 6. Zhao J.-Y., Wang X.-G. // Appl. Phys. A. 2019. V. 125. P. 178. https://doi.org/10.1007/s00339-019-2468-1
- 7. Beers W., Brik M., Ma C.-G. et al. // ECS J. Solid State Sci. Technol. 2024. https://doi.org/10.1149/2162-8777/ad561b
- 8. Krasinski M.J., Prywer J. // J. Cryst. Growth. 2007. V. 303. P. 105. https://doi.org/10.1016/j.jcrysgro.2006.10.228
- 9. Милль Б.В., Буташин А.В., Ходжабагян Г.Г. и др. // Докл. АН СССР. 1982. Т. 264. № 6. С. 1385.
- 10. Mill B.V., Pisarevsky Yu.V. // Proc. 2000 IEEE/EIA Intern. Frequency Control Symp., Kansas City, Missouru, USA. P. 133.
- 11. Максимов Б.А., Молчанов В.Н., Милль Б.В. и др. // Кристаллография. 2005. Т. 50. № 5. С. 813.
- 12. Винчелл А.Н., Винчелл Г. Оптические свойства искусственных минералов. М.: Мир, 1967. 528 с.
- 13. Shannon R.D., Shannon R.S., Medenbach O., Fischer R.X. // J. Phys. Chem. Ref. Data. 2002. V. 31. № 4. P. 931. https://doi.org/10.1063/1.1497384
- 14. Батурина О.А., Гречушников Б.Н., Каминский А.А. и др. // Кристаллография. 1987. Т. 32. Вып. 2. С. 406.
- 15. Cipriani C. // Period. Mineral. 1955. V. 24. P. 361.
- 16. Piret P. // Bull. Soc. Chim. Belg. 1961. V. 70. P. 193.
- 17. Schäfer G.F. // Z. Kristallogr. 1986. B. 175. S. 269. https://doi.org/10.1524/zkri.1986.175.3-4.269
- 18. Дудка А.П. // Кристаллография. 2017. Т. 62. № 2. С. 202. https://doi.org/10.7868/S0023476117020102
- 19. Marty K., Bordet P., Simonet V. et al. // Phys. Rev. B. 2010. V. 81. P. 054416. https://doi.org/10.1103/PhysRevB.81.054416
- 20. Pikin S.A., Lyubutin I.S. // Phys. Rev. B. 2012. V. 86. Р. 064414. https://doi.org/10.1103/PhysRevB.86.064414
- 21. Wang Z., Ji H., Zhang Z. et al. // J. Am. Ceram. Soc. 2021. V. 104. P. 5077. https://doi.org/10.1111/jace.17739
- 22. Singh V.S., Moharil S.V. // Mater. Today Proc. 2020. V. 28. P. 37. https://doi.org/10.1016/j.matpr.2020.01.047
- 23. Rigaku Oxford Diffraction, 2018, CrysAlisPro Software system, version 1.171.39.46, Rigaku Corporation, Oxford, UK.
- 24. Dudka A. // J. Appl. Cryst. 2010. V. 43. № 6. P. 1440. https://doi.org/10.1107/S0021889810037131
- 25. Petricek V., Dusek M., Palatinus L. // Z. Kristallogr. 2014. В. 229. № 5. S. 345. https://doi.org/10.1515/zkri-2014-1737
- 26. Dudka A.P., Bolotina N.B., Khrykina O.N. // J. Appl. Cryst. 2019. V. 52. P. 690. https://doi.org/10.1107/S1600576719005818
- 27. Glazer A.M. // J. Appl. Cryst. 2002. V. 35. P. 652. https://doi.org/10.1107/S0021889802013997
- 28. Шубников А.В. Основы оптической кристаллографии. М.: Изд-во АН СССР, 1958. 207 с.
- 29. Константинова А.Ф., Гречушников Б.Н., Бокуть Б.В., Валяшко Е.Г. Оптические свойства кристаллов. Минск: Наука и техника, 1995. 304 с.
- 30. Бацанов С.С. Структурная рефрактометрия. М.: Высшая школа, 1976. 304 с.
- 31. Константинова А.Ф., Головина Т.Г., Дудка А.П. // Кристаллография. 2018. Т. 63. № 2. С. 218. https://doi.org/10.7868/S0023476118020091
- 32. Кизель В.А., Бурков В.И. Гиротропия кристаллов. М.: Наука, 1980. 304 с.
- 33. Lowry T.M. Optical Rotatory Power. London: Longmans, Green and Co., 1935. 524 p.
- 34. Araki N., Ohsato H., Kakimoto K. et al.// J. Eur. Ceram. Soc. 2007. V. 27. P. 4099. https://doi.org/10.1016/j.jeurceramsoc.2007.02.177
