By this author

Determination of the structure of weakly ordered films according to x-ray diffraction data

Issue number 3 from 01.03.2024

Предложен метод поиска параметров структурных моделей слабоупорядоченных тонких пленок по данным рентгеновской дифракции, содержащих небольшое количество рефлексов. Разработанный метод позволяет сузить количество возможных структурных моделей, несмотря на малое число интерференционных максимумов, определить параметры возможных элементарных ячеек и проиндексировать соответствующие пики на дифрактограммах. Показано, как привлечение априорных данных позволяет получить физически адекватные решения. Методика определения структурных параметров продемонстрирована на примере анализа экспериментальной кривой, содержащей всего три дифракционных пика (максимума). Соответствующие алгоритмы поиска реализованы в рамках аналитического программного комплекса BARD (Basic Analisys of xRay Diffraction).

118 0

FEATURES OF THE APPLICATION OF MATHEMATICAL OPTIMIZATION METHODS FOR THE STUDY OF NANOSTRUCTURES BASED ON X-RAY DIFFRACTION DATA

Issue number 1 from 01.01.2023

Рассмотрены особенности методов математической оптимизации и предложены алгоритмы их использования, позволяющие повысить эффективность нахождения экстремальных значений в решении оптимизационных проблем. Предлагаемые алгоритмы носят универсальный характер, что позволяет применять их в различных областях вычислительной математики. В качестве иллюстрации приведено решение обратной задачи рефлектометрии в рамках ступенчатой модели электронного профиля для жидкокристаллической пленки блочного дендримера. Также по данным дифракции скользящего падения определена структура тонкопленочного слоя на водной субфазе. Предложенные алгоритмы методов оптимизации реализованы в рамках аналитического программного комплекса BARD (Basic Analisys of X-Ray Diffraction).

59 0