Исследование особенностей концентрационных неоднородностей при наземной отработке космического эксперимента по росту кристаллов Gе(Ga)
Исследование особенностей концентрационных неоднородностей при наземной отработке космического эксперимента по росту кристаллов Gе(Ga)
Аннотация
Код статьи
S0023476124040176-1
Тип публикации
Статья
Статус публикации
Опубликовано
Авторы
Коробейникова Е. Н.  
Аффилиация: Национальный исследовательский центр “Курчатовский институт”
Страницы
700-704
Аннотация
Представлены результаты подготовки и наземной отработки космического эксперимента по выращиванию кристаллов Ge(Ga), планируемого на борту многофункционального лабораторного модуля в составе российского сегмента Международной космической станции. В условиях, моделирующих микрогравитацию, исследованы особенности формирования концентрационной неоднородности в виде полос роста при выращивании кристаллов в различных тепловых условиях (при наличии или отсутствии свободной поверхности расплава (конвекции Марангони)), а также при изменении технологических параметров (вариации скорости роста). По полученным результатам металлографических и электрофизических исследований сделаны выводы об особенностях влияния в условиях микрогравитации технологических параметров процесса кристаллизации на структурное совершенство выращиваемых кристаллов.
Источник финансирования
Правительство РФ.
Классификатор
Получено
22.09.2024
Всего подписок
0
Всего просмотров
16
Оценка читателей
0.0 (0 голосов)
Цитировать   Скачать pdf

Библиография

1. Мюллер Г. Выращивание кристаллов из расплава. Конвекция и неоднородности. М.: Мир, 1991. 143 с.

2. Carlson D.J., Witt A.F. // J. Cryst. Growth. 1991. V. 108. P. 508. https://doi.org/10.1016/0022-0248 (91)90228-W

3. Wang C.A., Carlson D., Motakef S. et al. // J. Cryst. Growth. 2004. V. 264. P. 565. https://doi.org/10.1016/j.jcrysgro.2003.12.043

4. Голышев В.Д., Гоник М.А. Устройство для выращивания кристаллов. Патент РФ № 1800854, 1990.

5. Ostrogorsky A.G. // J. Cryst. Growth. 1990. V. 104. P. 233. https://doi.org/10.1016/0022-0248 (90)90122-2

6. Волков П.К., Захаров Б.Г., Серебряков Ю.А. // Кристаллография. 2000. Т. 45. № 5. С. 935. https://doi.org/10.1134/1.1312937

7. Моризейн К., Витт А., Гейтос Х. // Проблемы роста кристаллов / Под ред. Шефталя Н.Н., Гиваргизова Е.И. М.: Мир, 1968. С. 251.

8. Serebryakov Yu.A., Prokhorov I.A., Vlasov V.N. et al. // J. Cryst. Growth. 2007. V. 304. P. 11. https://doi.org/10.1016/j.jcrysgro.2007.01.045

9. Серебряков Ю.А., Сидоров В.С., Прохоров И.А. и др. // Поверхность. Рентген., синхротр. и нейтр. исслед. 2014. № 7. С. 49. https://doi.org/10.7868/S0207352814070166

10. Trumbore F.A., Porbansky E.M., Tartaglia A.A. // J. Phys. Chem. Solids. 1959. V. 11. P. 239. https://doi.org/10.1016/0022-3697 (59)90220-3

11. Bottago A., Zebib A. // J. Cryst. Growth. 1989. V. 97. P. 50.

12. Полежаев В.И., Простомолотов А.И., Верезуб Н.А. и др. // Процессы тепломассопереноса и рост монокристаллов и тонкопленочных структур. Труды второго симпозиума. Обнинск, 1998. С. 310.

13. Сидоров B.C., Захаров Б.Г., Серебряков Ю.А. и др. // Приборы и техника эксперимента. 1999. № 2. С. 148.

14. Сангвал К. Травление кристаллов: Теория, эксперимент, применение. М: Мир, 1990. 492 с.

15. Власов В.Н., Серебряков Ю.А., Стрелов В.И. // Устройство для измерения распределения удельного сопротивления в полупроводниковых материалах. Патент РФ № 145584. Заявка № 2014115440 от 15.08.2014. Приоритет от 18.04.2014. Бюл. № 26. 20.09.2014.

16. Власов В.Н., Стрелов В.И., Коробейникова Е.Н. // Приборы и техника эксперимента. 2019. № 5. С. 114. https://doi.org/10.1134/S0032816219040311

17. Картавых А.В. // Кристаллография. 2000. Т. 45. № 6. С. 1108.

18. Стрелов В.И., Захаров Б.Г., Сидоров В.С. и др. // Поверхность. Рентген., синхротр. и нейтр. исслед. 2003. № 6. С. 77.

19. Стрелов В.И., Захаров Б.Г., Сидоров В.С. и др. // Поверхность. Рентген., синхротр. и нейтр. исслед. 2005. № 10. С. 80.

Комментарии

Сообщения не найдены

Написать отзыв
Перевести